電感測試儀相關(guān)介紹：
1J3255BL 頻率范圍 20Hz - 200kHz
1J3255B 頻率范圍 20Hz - 500kHz 1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz
0.1%基本精度（英國標準） DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)
四線(xiàn)式測試，可**測量極低的Rdc、Rs、L和精準Q
可內建1Amp或2Amp DC Bias 多頻率自動(dòng)測試模式 多點(diǎn)DC Bias掃頻功能 涵蓋各式測量參數：Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 人性化直覺(jué)式操作介面,簡(jiǎn)單易懂 測試結果列印 可透過(guò)IEEE488連線(xiàn)控制
測試夾具選擇
1J1020
1J1022
1J1011
介電常數測試治具
（40MHz）
液體介電常數測試治具
（30MHz）
二線(xiàn)制DIP測試治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二線(xiàn)制SMD測試治具（彈片型）
二線(xiàn)制SMD測試治具（探針型）
四線(xiàn)制DIP 測試治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四線(xiàn)制SMD測試治具
二線(xiàn)制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
四線(xiàn)制DIP高電流測試治具
1J1016
1J10164
1J1023
二線(xiàn)制SMD高電流測試治具
四線(xiàn)制轉二線(xiàn)制高頻轉接頭
1J1025
1J1032
1J10324
探針式測量治具
二線(xiàn)制SMD底部電極測試夾具
四線(xiàn)制SMD底部電極測試夾具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
電容充放電保護單元
高頻80A SMD 二線(xiàn)式底部接觸式轉接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置電流夾具適配器
四轉一測試夾具
四轉二測試夾具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四線(xiàn)式DIP測試治具
(1MHz)
四線(xiàn)式測試夾具
(3MHz)
兩線(xiàn)式探針型高頻測試線(xiàn)
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
兩線(xiàn)式探針型高頻測試線(xiàn)SMD
精密型測試夾具
SMD鑷子式高精密測試夾具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
（大型）